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電壓擊穿試驗(yàn)儀的耐電壓測試

作者： 2016年08月03日 來源： 瀏覽量：
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電壓擊穿試驗(yàn)儀的耐電壓測試 　　 　　電壓擊穿試驗(yàn)儀中電介質(zhì)強(qiáng)度測試亦稱hipot測試大概是最多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線安全測試。 　　實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一部分。 　　hipot測試是確定電子絕緣
電壓擊穿試驗(yàn)儀的耐電壓測試
　　電壓擊穿試驗(yàn)儀的耐電壓測試
　　
　　電壓擊穿試驗(yàn)儀中電介質(zhì)強(qiáng)度測試亦稱hipot測試大概是最多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線安全測試。
　　實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一部分。
　　hipot測試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個(gè)非破壞性的測試。
　　這是適用于所有設(shè)備為保證絕緣材料是足夠的的一個(gè)高壓測試。
　　進(jìn)行hipot測試的其它原因是它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。
　　進(jìn)行型式測試的時(shí)候hipot測試是在某些測試（譬如失效潮態(tài)及振動(dòng)測試）之后進(jìn)行來確定是否因?yàn)檫@些測試造成絕緣的退化。
　　但是，日常生產(chǎn)進(jìn)行的hipot測試是制造過程中的測試來確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)是與型式測試所用產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)相同。
　　電壓擊穿試驗(yàn)儀一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過在線hipot測試檢查出來，例如變壓器繞組電氣間隙和爬電距離小。
　　這樣的故障可能起因于繞線部門的一名新操作員。
　　其它例子包括檢查絕緣材料的針孔瑕疵或發(fā)現(xiàn)一個(gè)過大的焊點(diǎn)。
　　大多數(shù)安全標(biāo)準(zhǔn)使用2xU+1000V的慣例作為基本的絕緣材料測試的依據(jù)這里的U是操作電壓（rms值）。
　　這個(gè)慣例僅僅作為一個(gè)指導(dǎo)對(duì)于個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)特別是IEC60950提供了一個(gè)具體的表格來定義根據(jù)測量到的實(shí)際工作電壓來確定確切的測試電壓　　
　　1.至于使用1000V作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過電壓。
　　實(shí)驗(yàn)和研究表示這些過電壓通常高達(dá)1000V。
　　電壓擊穿試驗(yàn)儀測試方法：高壓通常是應(yīng)用的在橫跨被測試絕緣材料的二個(gè)部件之間譬如測試設(shè)備（EUT）的一次側(cè)電路（PrimaryCircuit）和金屬外殼。
　　如果絕緣材料在兩個(gè)部件之間是足夠的那么加在兩個(gè)由絕緣體分離的導(dǎo)體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過絕緣體。
　　雖然這個(gè)小電流是可接受的但是空氣絕緣或固體絕緣不應(yīng)該發(fā)生擊穿。
　　因此需要注意這個(gè)電流是因?yàn)榫植糠烹娀驌舸┑慕Y(jié)果而不是由于電容聯(lián)結(jié)引起的。
　　 
 
　　
　　　　
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