產(chǎn)品展示
所有產(chǎn)品：共搜索到37 個(gè)符合條件的產(chǎn)品
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹 |
|
光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x | SuperViewW系列光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x可以測(cè)到12mm，也可以測(cè)到更小的尺寸，xy載物臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)行程為140*110mm，局部位移精度可達(dá)亞微米級(jí)別，鏡頭的橫向分辨率數(shù)值可達(dá)0.4um |
|
|
中圖國(guó)產(chǎn)白光干涉儀 | SuperViewW1中圖國(guó)產(chǎn)白光干涉儀提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能；自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等；以及自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能。 |
|
GTS中圖激光跟蹤儀 | CHOTEST中圖儀器GTS中圖激光跟蹤儀已經(jīng)發(fā)展出三自由度激光跟蹤儀和六自由度激光跟蹤儀家族系列，可以和多種形式的合作目標(biāo)測(cè)頭配合使用。 |
|
國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度 | 中圖儀器CP系列國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度是利用光學(xué)干涉原理，可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。 |
|
|
白光干涉3D形貌測(cè)量?jī)x | SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)原理，是對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器。 |
|
一鍵全自動(dòng)尺寸測(cè)量?jī)x器 | VX系列一鍵全自動(dòng)尺寸測(cè)量?jī)x器結(jié)合了高精度與高效率的光學(xué)影像量測(cè)系統(tǒng)，替代了傳統(tǒng)影像量測(cè)設(shè)備，在高精度的基礎(chǔ)上，可以快速的得到圖像化檢測(cè)結(jié)果并制作檢測(cè)報(bào)告，大幅提高工作效率。 |
|
國(guó)產(chǎn)高重復(fù)性多功能三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) | Mars國(guó)產(chǎn)高重復(fù)性多功能三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性優(yōu)。 |
