應用范圍：

       1、用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度精確測量；

       2、對金屬箔片、鋁箔片、銅箔片等硬質材料厚度精確測量；

       3、接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；

       4、通過調節測量頭可完整紙張規定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試；

技術特征：

       ★微電腦控制、大液晶顯示

       ★高精度傳感器，保證了測試精度

       ★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持 各種非標定制

       ★測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統誤差

       ★手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇

主要參數：

       測量范圍：0-2mm （其他量程可定制）

       分辨率 ：0.1um

       測量速度：10 次/分（可調）

       測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；