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日立發布了全球獨創的熒光分布成像系統(EEM View)

作者： 2019年11月04日 來源：全球化工設備網 瀏覽量：
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剛剛過去的BCEIA大會，日立發布了全球獨創的熒光分布成像系統(EEM View)，今天就用它來測定萬圣節必不可少的南瓜貼紙。　　EEM View是日立全球首次創新在熒光分光光度計中加入CMOS相機的系統，能夠同時獲得樣品的圖
　　剛剛過去的BCEIA大會，日立發布了全球獨創的熒光分布成像系統(EEM View)，今天就用它來測定萬圣節必不可少的南瓜貼紙。
 
　　EEM View是日立全球首次創新在熒光分光光度計中加入CMOS相機的系統，能夠同時獲得樣品的圖像和光譜信息，突出亮點是可以獲得樣品圖像任意區域的光譜性能。
 
　　南瓜貼紙光譜信息鑒賞：各式各樣的南瓜貼紙中含有大量熒光粉，眾所周知，這種貼紙暴露在黑暗中會發出熒光。
 
　　如圖所示便是這次鑒賞南瓜頭貼紙的熒光分布成像系統，從圖中可以清晰看到新附件的結構，CMOS相機位于積分球下方，樣品安放在積分球上方，入射光經過積分球漫反射獲得均勻光源，激發樣品產生熒光。
 
　　一般的熒光分光光度計測得的是樣品區域表面平均化后的信息，只能獲得一條熒光光譜，而日立熒光分布成像系統能夠同時獲取樣品不同位置的光譜信息，有利于探究樣品表面的光學性能分布。
 
　　日立高新技術以‘讓世界充滿活力’為宗旨，致力于新技術的融合與開發，這次推出的新品熒光分布成像系統將對油墨、材料、化工、涂料以及LED等領域帶來新的啟發，新的探索方法。
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