愛佩科技AP-CJ半導體高低溫沖擊試驗箱的簡單介紹

愛佩科技AP-CJ半導體高低溫沖擊試驗箱的詳細信息

半導體高低溫沖擊試驗箱的范圍是指設備可使用的沖擊溫度是在-60度至150度之間可任意調整與設定。

半導體高低溫沖擊試驗箱的技術參數：

▲冷卻系統 半密閉式雙段壓縮機（水冷式）／全密閉式雙段壓縮機（風冷式）

▲保溫材質 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

▲系統 P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調溫控制系統

▲安全保護裝置 無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關，冷媒高壓保護開關、故障警告系統，

▲電子警報器

▲配 件觀視窗（特殊選購型）、上下可調隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架

▲電 源 AC380V 50Hz／60Hz 3

▲升溫時間（蓄熱區） RT～200℃約需35min

▲降溫時間（蓄冷區） RT～-70℃約需85min

▲溫度回復時間／轉換時間 ≤5min內 / ≤l0秒內

▲尺 寸可選擇:W×H×D:40×35×30（cm）；50×40×40 （cm）；60×50×50 （cm）；70×60×60（cm）更大尺寸可非標定制。

▲溫度控制精度／分布精度 ±0.5℃／±2.0℃

執行與滿足標準

1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；

2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；

4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；

5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；

6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。

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