NANOMAP-PS 探針式臺(tái)階儀的簡(jiǎn)單介紹簡(jiǎn)介: 美國(guó)AEP Technology公司主要從事半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備, MEMS檢測(cè)設(shè)備, 光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測(cè)量解決方案行業(yè)的領(lǐng)先供應(yīng)者,專門致力于材料表面形貌測(cè)量與檢測(cè)。公司始終致力于NANOMAP-PS 探針式臺(tái)階儀的詳細(xì)信息主要技術(shù)參數(shù)垂直分辨率: 0.1nm 重復(fù)性: 0.5nm(1Sigema @1um) 垂直范圍: 1000um 掃描范圍: 5000um 以上是NANOMAP-PS 探針式臺(tái)階儀的詳細(xì)信息,如果您對(duì)NANOMAP-PS 探針式臺(tái)階儀的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有任何疑問,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取NANOMAP-PS 探針式臺(tái)階儀的最新信息 |